Markenbezeichnung: | PRECISE INSTRUMENT |
Modellnummer: | P100B |
MOQ: | 1 Einheit |
Lieferzeit: | 2-8 Wochen |
Zahlungsbedingungen: | T/T |
30V 4A 30A Impulskörpermessgerät P100B Quellenmesser für Halbleitergeräte
Der P100B Benchtop Pulse SourceMeter ist ein zukunftsorientiertes, leistungsstarkes Prüfgerät mit integrierter fortgeschrittener digitaler Signalverarbeitung, intelligenter Steuerung,und Mensch-Maschine-InteraktionstechnologienMit einer 5-Zoll-Touchscreen-Schnittstelle, die so intuitiv ist wie ein Smartphone, bietet die Maschine eine hocheffektive Messung, einen großen Dynamikbereich und eine benutzerfreundliche digitale Touchfunktion.der P100B liefert eine maximale Ausgangsspannung von 30 V und einen Pulsstrom von 30 AOb kleine elektronische Komponenten oder leistungsstarke Geräte getestet werden, der P100B zeichnet sich als vielseitiges Werkzeug für die Charakterisierung moderner Halbleiter, Nanomaterialien,organische Elektronik, gedruckte Elektronik und andere geringe Leistungsmengen.
Produktmerkmale
Spitzenleistung mit fortschrittlicher Technologie
▪Nutzt digitale Kalibrierung, adaptive Filterung und Hochgeschwindigkeitsdatenverarbeitung, um branchenführende Präzision und dynamische Reichweite zu erreichen.
▪Messen von ultra-niedrigen Strömen bis 1pA für Geräte mit geringer Leistung und liefern stabile 30A-Pulsausgänge für Komponenten mit hoher Leistung.
▪Intelligente Algorithmen sorgen für eine präzise Steuerung und minimierte Fehler während des gesamten Testprozesses.
Intuitive intelligente Interaktion
▪Der 5-Zoll-Touchscreen mit einer vollständig grafischen Schnittstelle unterstützt Sprachbefehle für schnelle Einrichtung und Datenanfragen.
▪Anpassungsfähige Layouts und Verknüpfungen der Schnittstellen passen sich den Benutzergewohnheiten an, reduzieren Lernkurven und steigern die Effizienz.
Hochpräzise Pulssteuerung und innovative Anwendungen
▪Erreicht eine minimale Impulsbreite von 200 μs mit fortschrittlichen Schaltkreisen für eine stabile Amplitude und Zeitung.
▪Unterstützt PWM (Pulse Width Modulation), PFM (Pulse Frequency Modulation) und benutzerdefinierte Modulationsmodi für drahtlose Kommunikation, Radarsysteme und andere Spitzentechnologieanwendungen.
Adaptive Vier-Quadranten-Betrieb
▪Simuliert elektrische Bedingungen in der realen Welt, einschließlich bidirektionale Stromzufuhr/Sinking (Quelle/Sink-Modi).
Innovative Scanning-Modi und tiefe Datenanalyse
▪Dynamischer Sweep-Modus: Passt automatisch die Scanparameter an, basierend auf Echtzeitdaten für adaptive Tests.
▪Korrelierter Sweep-Modus: Ermöglicht das gemeinsame Testen von mehreren Parametern, um versteckte Datenbeziehungen aufzudecken.
▪Die eingebaute KI-Analytik-Engine erzeugt vorausschauende Erkenntnisse und professionelle Berichte.
Effizientes Datenmanagement
▪USB-Speicher und One-Click-Berichterstattung vereinfachen den Datenaustausch.
▪Klassifiziert, archiviert, abruft und sichert Testdaten für eine einfache Verwaltung.
▪Fernübertragung und gemeinsame Nutzung von Daten über Netzwerk-Schnittstellen verbessern die Zusammenarbeit im Team.
Offene Vernetzung und Ökosystemintegration
▪Ausgestattet mit RS-232, GPIB und LAN-Schnittstellen für eine nahtlose Integration mit automatisierten Prüfsystemen (ATE) und Software von Drittanbietern.
· Zusammenarbeit mit Industriepartnern zur Weiterentwicklung von Messtechnologien und -anwendungen.
Produktparameter
Artikel 2 |
Parameter |
V-Bereiche |
300 mV bis 30 V |
I-Bereiche |
Impulsmodus: 10nA ∼30A Gleichstrommodus: 10nA ∼4A |
Leistungsgrenzen |
Gleichstrommodus: maximal 40 W /Pulsmodus: maximal 400 W |
Mindestpulsbreite |
200 μs |
Stichprobenquote |
100,000 S/s |
Genauigkeit |
00,1%/0,03% |
Auslöser: Konfiguratorische I/O-Triggerpolarität |
Polarität des I/O-Trigger |
Anzeige |
5-Zoll-Touchscreen |
Schnittstellen |
RS-232, GPIB, LAN |
Aufbewahrung |
USB-Unterstützung |
Stromversorgung |
100-240 V Wechselstrom, 50/60 Hz |
Anwendungen
Innovationen in der Halbleitertechnologie
▪Testen von 2D-Materialien, Quantenpunkten und fortschrittlichen Knoten-ICs für Leckstrom, Schwellenspannung und Prozessoptimierung.
▪Validiert SiC/GaN-Geräte unter Hochspannungs-/Hochtemperaturbedingungen, um die Leistungselektronik der nächsten Generation zu beschleunigen
Energie und Stromsysteme:Messen der Perovskit-/organischen Solarzelleneffizienz und der Ladungs-/Entladungszyklen von Festkörper-/Natriumionenbatterien.
Sensor:Die elektrische Leistung von Widerstandssensoren
Forschungsarbeiten im Bereich der fortgeschrittenen Materialien
▪Analysiert Nanokomposite, organische Halbleiter und Supraleiter auf elektrische, optische und multiphysikalische Eigenschaften.
▪Treibt Durchbrüche in flexibler Elektronik, Wearables und Energiespeichertechnologien an.
Markenbezeichnung: | PRECISE INSTRUMENT |
Modellnummer: | P100B |
MOQ: | 1 Einheit |
Verpackungsdetails: | Karton. |
Zahlungsbedingungen: | T/T |
30V 4A 30A Impulskörpermessgerät P100B Quellenmesser für Halbleitergeräte
Der P100B Benchtop Pulse SourceMeter ist ein zukunftsorientiertes, leistungsstarkes Prüfgerät mit integrierter fortgeschrittener digitaler Signalverarbeitung, intelligenter Steuerung,und Mensch-Maschine-InteraktionstechnologienMit einer 5-Zoll-Touchscreen-Schnittstelle, die so intuitiv ist wie ein Smartphone, bietet die Maschine eine hocheffektive Messung, einen großen Dynamikbereich und eine benutzerfreundliche digitale Touchfunktion.der P100B liefert eine maximale Ausgangsspannung von 30 V und einen Pulsstrom von 30 AOb kleine elektronische Komponenten oder leistungsstarke Geräte getestet werden, der P100B zeichnet sich als vielseitiges Werkzeug für die Charakterisierung moderner Halbleiter, Nanomaterialien,organische Elektronik, gedruckte Elektronik und andere geringe Leistungsmengen.
Produktmerkmale
Spitzenleistung mit fortschrittlicher Technologie
▪Nutzt digitale Kalibrierung, adaptive Filterung und Hochgeschwindigkeitsdatenverarbeitung, um branchenführende Präzision und dynamische Reichweite zu erreichen.
▪Messen von ultra-niedrigen Strömen bis 1pA für Geräte mit geringer Leistung und liefern stabile 30A-Pulsausgänge für Komponenten mit hoher Leistung.
▪Intelligente Algorithmen sorgen für eine präzise Steuerung und minimierte Fehler während des gesamten Testprozesses.
Intuitive intelligente Interaktion
▪Der 5-Zoll-Touchscreen mit einer vollständig grafischen Schnittstelle unterstützt Sprachbefehle für schnelle Einrichtung und Datenanfragen.
▪Anpassungsfähige Layouts und Verknüpfungen der Schnittstellen passen sich den Benutzergewohnheiten an, reduzieren Lernkurven und steigern die Effizienz.
Hochpräzise Pulssteuerung und innovative Anwendungen
▪Erreicht eine minimale Impulsbreite von 200 μs mit fortschrittlichen Schaltkreisen für eine stabile Amplitude und Zeitung.
▪Unterstützt PWM (Pulse Width Modulation), PFM (Pulse Frequency Modulation) und benutzerdefinierte Modulationsmodi für drahtlose Kommunikation, Radarsysteme und andere Spitzentechnologieanwendungen.
Adaptive Vier-Quadranten-Betrieb
▪Simuliert elektrische Bedingungen in der realen Welt, einschließlich bidirektionale Stromzufuhr/Sinking (Quelle/Sink-Modi).
Innovative Scanning-Modi und tiefe Datenanalyse
▪Dynamischer Sweep-Modus: Passt automatisch die Scanparameter an, basierend auf Echtzeitdaten für adaptive Tests.
▪Korrelierter Sweep-Modus: Ermöglicht das gemeinsame Testen von mehreren Parametern, um versteckte Datenbeziehungen aufzudecken.
▪Die eingebaute KI-Analytik-Engine erzeugt vorausschauende Erkenntnisse und professionelle Berichte.
Effizientes Datenmanagement
▪USB-Speicher und One-Click-Berichterstattung vereinfachen den Datenaustausch.
▪Klassifiziert, archiviert, abruft und sichert Testdaten für eine einfache Verwaltung.
▪Fernübertragung und gemeinsame Nutzung von Daten über Netzwerk-Schnittstellen verbessern die Zusammenarbeit im Team.
Offene Vernetzung und Ökosystemintegration
▪Ausgestattet mit RS-232, GPIB und LAN-Schnittstellen für eine nahtlose Integration mit automatisierten Prüfsystemen (ATE) und Software von Drittanbietern.
· Zusammenarbeit mit Industriepartnern zur Weiterentwicklung von Messtechnologien und -anwendungen.
Produktparameter
Artikel 2 |
Parameter |
V-Bereiche |
300 mV bis 30 V |
I-Bereiche |
Impulsmodus: 10nA ∼30A Gleichstrommodus: 10nA ∼4A |
Leistungsgrenzen |
Gleichstrommodus: maximal 40 W /Pulsmodus: maximal 400 W |
Mindestpulsbreite |
200 μs |
Stichprobenquote |
100,000 S/s |
Genauigkeit |
00,1%/0,03% |
Auslöser: Konfiguratorische I/O-Triggerpolarität |
Polarität des I/O-Trigger |
Anzeige |
5-Zoll-Touchscreen |
Schnittstellen |
RS-232, GPIB, LAN |
Aufbewahrung |
USB-Unterstützung |
Stromversorgung |
100-240 V Wechselstrom, 50/60 Hz |
Anwendungen
Innovationen in der Halbleitertechnologie
▪Testen von 2D-Materialien, Quantenpunkten und fortschrittlichen Knoten-ICs für Leckstrom, Schwellenspannung und Prozessoptimierung.
▪Validiert SiC/GaN-Geräte unter Hochspannungs-/Hochtemperaturbedingungen, um die Leistungselektronik der nächsten Generation zu beschleunigen
Energie und Stromsysteme:Messen der Perovskit-/organischen Solarzelleneffizienz und der Ladungs-/Entladungszyklen von Festkörper-/Natriumionenbatterien.
Sensor:Die elektrische Leistung von Widerstandssensoren
Forschungsarbeiten im Bereich der fortgeschrittenen Materialien
▪Analysiert Nanokomposite, organische Halbleiter und Supraleiter auf elektrische, optische und multiphysikalische Eigenschaften.
▪Treibt Durchbrüche in flexibler Elektronik, Wearables und Energiespeichertechnologien an.