Markenbezeichnung: | PRECISE INSTRUMENT |
Modellnummer: | P200B |
MOQ: | 1 Einheit |
Lieferzeit: | 2-8 Wochen |
Zahlungsbedingungen: | T/T |
Halbleiterprüfimpulse SMU-Einheit Quellenmessungseinheit P200B 100V 4A 30A
Der P200B Benchtop Pulse SourceMeter ist ein benutzerorientiertes, leistungsstarkes Prüfgerät mit einem 5-Zoll-Touchscreen und einer intuitiven grafischen Schnittstelle für eine mühelose Bedienung.mit einer Leistung von mehr als 100 V und 30 A, unterstützt vier-Quadranten-Betrieb und ist hervorragend in der Prüfung von Low-Power-Sensoren, Hochspannungs-Power-Modulen, Halbleitern, Nanomaterialien und gedruckter Elektronik.
Produktmerkmale
▪Einfache Operation:Ein 5-Zoll-Touchscreen mit geführten Anleitungen vereinfacht die Einrichtung, auch für Anfänger.
▪Weite dynamische Reichweite:1pA30A (Impulsmodus), 1pA4A (Gleichströmungsmodus) und 0V100V Spannungsausgang mit automatischem Bereich.
▪Präzisionspulssteuerung:Die minimale Pulsbreite von 200 μs gewährleistet eine stabile Amplitude, Frequenz und Zeitung für Hochgeschwindigkeitsgeräteprüfungen.
▪Hohe Genauigkeit:0.03% Genauigkeit (1μA1A Strom, voller Spannungsbereich) und 0,1% Genauigkeit für längere Bereiche.
▪Vier-Quadranten-FlexibilitätSimuliert Energierückgewinnung, bidirektionale Stromströme und reale elektrische Bedingungen.
▪Anpassbare Scans:Lineare, logarithmische und benutzerdefinierte Sweep-Modi für IV-Charakterisierung und Materialstudien.
▪Datenverwaltung:Ein-Klick-USB-Speicher, automatisierte Berichte und Echtzeit-Datenfreigabe über RS-232/GPIB/LAN-Schnittstellen.
Produktparameter
Artikel 2 |
Parameter |
V-Bereiche |
300 mV bis 100 V |
I-Bereiche |
Impulsmodus: 10nA ∼30A Gleichstrommodus: 10nA ∼4A |
Leistungsgrenzen |
Gleichstrommodus: maximal 40 W /Pulsmodus: maximal 400 W |
Mindestpulsbreite |
200 μs |
Stichprobenquote |
100,000 S/s |
Genauigkeit |
00,1%/0,03% |
Auslöser: |
Polarität des I/O-Trigger |
Anzeige |
5-Zoll-Touchscreen |
Schnittstellen |
RS-232, GPIB, LAN |
Aufbewahrung |
USB-Unterstützung |
Stromversorgung |
100-240 V Wechselstrom, 50/60 Hz |
Anwendungen
▪Halbleiter:Diodenleckageprüfungen, MOSFET-Schaltanalyse, SiC/GaN-Hochtemperaturvalidierung.
▪Energie und Anzeigen:LED/AMOLED Effizienzoptimierung, Leistungstests für Solarzellen/Batterien.
▪Sensoren:Kalibrierung des Temperatur-/Drucksensors, Validierung gegen Störungen.
▪Materialwissenschaften:Studien zur Leitfähigkeit von Graphen/Nanowires, Charakterisierung von E-Tinte für flexible Elektronik.
Markenbezeichnung: | PRECISE INSTRUMENT |
Modellnummer: | P200B |
MOQ: | 1 Einheit |
Verpackungsdetails: | Karton. |
Zahlungsbedingungen: | T/T |
Halbleiterprüfimpulse SMU-Einheit Quellenmessungseinheit P200B 100V 4A 30A
Der P200B Benchtop Pulse SourceMeter ist ein benutzerorientiertes, leistungsstarkes Prüfgerät mit einem 5-Zoll-Touchscreen und einer intuitiven grafischen Schnittstelle für eine mühelose Bedienung.mit einer Leistung von mehr als 100 V und 30 A, unterstützt vier-Quadranten-Betrieb und ist hervorragend in der Prüfung von Low-Power-Sensoren, Hochspannungs-Power-Modulen, Halbleitern, Nanomaterialien und gedruckter Elektronik.
Produktmerkmale
▪Einfache Operation:Ein 5-Zoll-Touchscreen mit geführten Anleitungen vereinfacht die Einrichtung, auch für Anfänger.
▪Weite dynamische Reichweite:1pA30A (Impulsmodus), 1pA4A (Gleichströmungsmodus) und 0V100V Spannungsausgang mit automatischem Bereich.
▪Präzisionspulssteuerung:Die minimale Pulsbreite von 200 μs gewährleistet eine stabile Amplitude, Frequenz und Zeitung für Hochgeschwindigkeitsgeräteprüfungen.
▪Hohe Genauigkeit:0.03% Genauigkeit (1μA1A Strom, voller Spannungsbereich) und 0,1% Genauigkeit für längere Bereiche.
▪Vier-Quadranten-FlexibilitätSimuliert Energierückgewinnung, bidirektionale Stromströme und reale elektrische Bedingungen.
▪Anpassbare Scans:Lineare, logarithmische und benutzerdefinierte Sweep-Modi für IV-Charakterisierung und Materialstudien.
▪Datenverwaltung:Ein-Klick-USB-Speicher, automatisierte Berichte und Echtzeit-Datenfreigabe über RS-232/GPIB/LAN-Schnittstellen.
Produktparameter
Artikel 2 |
Parameter |
V-Bereiche |
300 mV bis 100 V |
I-Bereiche |
Impulsmodus: 10nA ∼30A Gleichstrommodus: 10nA ∼4A |
Leistungsgrenzen |
Gleichstrommodus: maximal 40 W /Pulsmodus: maximal 400 W |
Mindestpulsbreite |
200 μs |
Stichprobenquote |
100,000 S/s |
Genauigkeit |
00,1%/0,03% |
Auslöser: |
Polarität des I/O-Trigger |
Anzeige |
5-Zoll-Touchscreen |
Schnittstellen |
RS-232, GPIB, LAN |
Aufbewahrung |
USB-Unterstützung |
Stromversorgung |
100-240 V Wechselstrom, 50/60 Hz |
Anwendungen
▪Halbleiter:Diodenleckageprüfungen, MOSFET-Schaltanalyse, SiC/GaN-Hochtemperaturvalidierung.
▪Energie und Anzeigen:LED/AMOLED Effizienzoptimierung, Leistungstests für Solarzellen/Batterien.
▪Sensoren:Kalibrierung des Temperatur-/Drucksensors, Validierung gegen Störungen.
▪Materialwissenschaften:Studien zur Leitfähigkeit von Graphen/Nanowires, Charakterisierung von E-Tinte für flexible Elektronik.