300V 4A 30A Impulse SMU-Einheit P300B Quellenmessung für Halbleiter und Materialien

Der P300B Benchtop Pulse SourceMeter integriert eine hybride Signalverarbeitungstechnologie, die ein hochpräzises analogues Frontend mit einer intelligenten digitalen Verarbeitungseinheit kombiniert.Der 5-Zoll-Touchscreen dient sowohl als intuitiver Steuerungsknotenpunkt als auch als Echtzeit-Datenvisualisierungsportal, die es Benutzern ermöglicht, den Testfortschritt und die Ergebnisse über eine grafische Schnittstelle zu überwachen. the P300B supports four-quadrant operation to simulate complex electrical scenarios—from forward driving and reverse braking to energy recovery—providing robust technical support for advanced applications in semiconductors, Nanomaterialien, organischer Elektronik und gedruckter Elektronik.

Produktmerkmale

▪Ultra-hohe Präzision und Stabilität:Erreicht eine Genauigkeit von 0,03% (1μA1A Strom, voller Spannungsbereich) und eine Genauigkeit von 0,1% für erweiterte Bereiche (10nA, 100nA, 4A, 10A, 30A).Temperaturstabilisierte Schaltkreise und elektromagnetische Abschirmungen verringern Umgebungsstörungen.

▪Intelligente Berührungseinrichtung:Ein 5-Zoll-Touchscreen mit Gesten (Zoom, Swipe) und geführten Arbeitsabläufen vereinfacht komplexe Einstellungen.

▪Vollständige AbdeckungDie Messungen 1pA30A (Impulsmodus), 1pA4A (Gleichströmungsmodus) und 0pA300V mit automatischem Bereich für eine nahtlose Anpassung an verschiedene Geräte.

▪Präzisionspulssteuerung:Die minimale Pulsbreite von 200 μs über DDS (Direct Digital Synthesis) und Feedback-Algorithmen gewährleistet eine stabile Amplitude, Frequenz und Phase für die Prüfung von transienten Reaktionen.

▪Vier-Quadranten-FlexibilitätSimuliert reale Szenarien wie Energieabsorption und bidirektionale Stromströme in Elektrofahrzeugen oder Stromversorgungssystemen.

▪Anpassbare Scans:Lineare/logarithmische Überprüfungen, mehrsegmentierte Sequenzen und benutzerdefinierte Parameter für spezielle Tests.

▪Erweiterte Datenanalyse:Ein integrierte Software erzeugt I-V/P-V-Kurven, Histogramme und Berichte.

Produktparameter

Anwendungen

▪Forschung und Entwicklung von Halbleitern:Charakterisierung von Widerständen, Dioden, Transistoren und Breitbandhalbleitern (SiC/GaN) unter Hochspannungs-/Hochtemperaturbedingungen.

▪Energie und Stromsysteme:Die Effizienz der Solarzelle, die Ladungs- und Entladungszyklen der Batterie sowie die Zuverlässigkeit der netzgebundenen Wechselrichter/Wandler werden getestet.

▪Sensoren:Validieren Sie die Linearität des Temperatur/Druck/Gassensors, die Reaktionszeit und die Stabilität für industrielle Anwendungen.

▪Weiterentwickelte Materialien:Analyse der Leitfähigkeit von Graphen/Nanodraht, der Leistung von organischer E-Tinte und der flexiblen/tragbaren Elektronik.