Video-Kanal von China Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.

Plaudern Kontaktieren Sie uns

Zu Hause Videos Wiedergabe Website

Deutsch

english français Deutsch Italiano Русский Español português Nederlandse ελληνικά 日本語 한국 polski فارسی বাংলা ไทย tiếng Việt العربية हिन्दी Türkçe bahasa indonesia

Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.

Qualität Quellmaß-Einheit, Doppelkanalquellenmesser Hersteller aus China

Qualitätslieferant Hauptprodukte

Zu Hause Videos Wiedergabe Website

Alle Videos

00:34

LDBI-Mehrkanalsystem zur Hochleistungs-Laseralterung

February 26, 2025
00:24

1000A-Stromsensor-Prüfsystem CTMS

February 26, 2025
00:30

10kV/6000A Leistungsanalysator Statikprüfsystem PMST für MOSFET BJT IGBT und SiC GaN Halbleiter

February 26, 2025
00:36

1200V/100A Halbleiterparameter-Analysator SPA6100

February 26, 2025
00:27

2 MS/s Mehrkanal-Datenerfassungskarte A400B Board Hochgeschwindigkeit

February 26, 2025
00:24

A400 Datenerfassungskarte mit 16-Bit-ADC-Auflösung und Probenahmerate von 1 MS/s

February 26, 2025
00:24

60A CW/600A QCW Hochleistungsprüfung Laseranlage HCPL060

February 25, 2025
00:24

60A CW/60A QCW Hochleistungsprüfung Laserstromversorgung HCPL006

February 25, 2025
00:24

20A CW/20A QCW Hochleistungsprüfung Laserstromversorgung HCPL002

February 25, 2025
00:27

8000V/40mA Hochspannungsstromquelle E800

February 25, 2025
00:24

300A/30V Hochstrom-Impuls-Stromversorgung HCPL030 für SiC/IGBT/GaN HEMT-Prüfung

February 25, 2025
00:24

3500V/100mA Hochspannungsstromquelle E300

February 25, 2025
00:27

2200V/100mA Hochspannungsstromquelle E200

February 25, 2025
00:24

1200V/100mA Hochspannungs-Stromquelle für IGBT-Ausfallspannungstest

February 25, 2025
00:24

1000A/18V Hochstrom-Impuls-Stromversorgung HCPL100 für SiC/IGBT/GaN HEMT-Prüfung

February 25, 2025
00:24

S300 Gleichstromquellenmessgerät 300V/1A zur Prüfung der elektrischen Eigenschaften

February 24, 2025
00:24

300V/3A Halbleiterprüfung Gleichspannungsquellenmessgerät S300B

February 24, 2025
00:24

30V/1A/10A Halbleiterprüfung Vier-Quadranten-Betrieb Impulskörpermesser P100

February 24, 2025
00:24

100V/1A/10A Pulsquelle Meter P200 zur Charakterisierung von Halbleitern

February 24, 2025
00:24

300V/1A/10A Halbleiterprüfung Vier-Quadranten-Betrieb Impulskörpermesser P300

February 24, 2025
00:24

300V/4A/30A-Pulsquellenmessgerät P300B für Halbleiter und Materialien

February 24, 2025
00:24

Messgerät HCP100 für hohe Stromspannungsquellen mit maximaler Ausgangsspannung 30A und maximaler Ausgangsspannung 50V

February 24, 2025
00:25

100 V/100 A Hochstrom-Impulsquelle-Messgerät HCP300 für IGBT

February 24, 2025
00:24

300V/30A Dual-Channel-Quellzähler DP300B für verschiedene elektrische Eigenschaftenstests

February 24, 2025
00:24

100V/30A Dual-Channel-Quellzähler DP200B für die BJT-Prüfung

February 24, 2025
00:24

30V/30A Dual-Channel-Quellzähler DP100B mit Spannungs-/Strommessung und vier Quadrantenbetrieb

February 24, 2025
00:26

10V/500mA Vierkanal-Unterkarte Gleichspannungsquelle Maßeinheit CS401

February 24, 2025
00:24

10V/500mA Vierkanal-Subkarten-Pulsquelle-Messungseinheit CBI401

February 24, 2025
00:24

10V/1A Vierkanal-Subkarten-Pulsquellenmessgerät CBI402

February 24, 2025
00:28

18V/1A Vierkanal-Subkarten-Pulsquellenmessgerät CBI403

February 24, 2025
00:28

3-Slots Subcards Plug-in Source Measure Unit 1003C mit industrieller Zuverlässigkeit und Skalierbarkeit

February 24, 2025
00:24

30V/1A Einzelkanal-Unterkarte Gleichstromquelle Maßeinheit CS100

February 24, 2025
00:24

100V/1A Einzelkanal-Unterkarte Gleichstromquelle Maßeinheit CS200

February 24, 2025
00:24

300V/1A Einzelkanal-Unterkarte Gleichstromquelle Maßeinheit CS300

February 24, 2025
00:27

18V/1A Vierkanal-Unterkarte DC-Quelle Maßeinheit CS402

February 24, 2025
00:27

10V/500mA Vierkanal-Unterkarte Gleichspannungsquelle Maßeinheit CS401

February 24, 2025
00:29

10V/200mA Vierkanal-Subkartenquelle-Meter CS400 für Hochleistungsprüfungen in Parallelumgebungen

February 24, 2025
00:36

30V/1A Halbleiter elektrische Eigenschaften Prüfung Gleichstromquelle Maßeinheit S100

February 24, 2025
01:24

PRECISE Instrument. Quelle der Erforschung.

February 17, 2025