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Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.

Qualität Quellmaß-Einheit, Doppelkanalquellenmesser Hersteller aus China

Qualitätslieferant Hauptprodukte

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Halbleiterprüfsysteme

00:34

LDBI-Mehrkanalsystem zur Hochleistungs-Laseralterung

February 26, 2025
00:24

1000A-Stromsensor-Prüfsystem CTMS

February 26, 2025
00:30

10kV/6000A Leistungsanalysator Statikprüfsystem PMST für MOSFET BJT IGBT und SiC GaN Halbleiter

February 26, 2025
00:36

1200V/100A Halbleiterparameter-Analysator SPA6100

February 26, 2025

Quellmaß-Einheit

00:27

2 MS/s Mehrkanal-Datenerfassungskarte A400B Board Hochgeschwindigkeit

February 26, 2025
00:24

1000A/18V Hochstrom-Impuls-Stromversorgung HCPL100 für SiC/IGBT/GaN HEMT-Prüfung

February 25, 2025
00:24

S300 Gleichstromquellenmessgerät 300V/1A zur Prüfung der elektrischen Eigenschaften

February 24, 2025
00:24

300V/3A Halbleiterprüfung Gleichspannungsquellenmessgerät S300B

February 24, 2025
00:24

30V/1A/10A Halbleiterprüfung Vier-Quadranten-Betrieb Impulskörpermesser P100

February 24, 2025
00:24

100V/1A/10A Pulsquelle Meter P200 zur Charakterisierung von Halbleitern

February 24, 2025
00:24

300V/1A/10A Halbleiterprüfung Vier-Quadranten-Betrieb Impulskörpermesser P300

February 24, 2025
00:24

300V/4A/30A-Pulsquellenmessgerät P300B für Halbleiter und Materialien

February 24, 2025
00:24

Messgerät HCP100 für hohe Stromspannungsquellen mit maximaler Ausgangsspannung 30A und maximaler Ausgangsspannung 50V

February 24, 2025
00:25

100 V/100 A Hochstrom-Impulsquelle-Messgerät HCP300 für IGBT

February 24, 2025
00:27

18V/1A Vierkanal-Unterkarte DC-Quelle Maßeinheit CS402

February 24, 2025
00:27

10V/500mA Vierkanal-Unterkarte Gleichspannungsquelle Maßeinheit CS401

February 24, 2025
00:36

30V/1A Halbleiter elektrische Eigenschaften Prüfung Gleichstromquelle Maßeinheit S100

February 24, 2025

Weitere Informationen

Mehrkanalprüfgeräte

00:26

10V/500mA Vierkanal-Unterkarte Gleichspannungsquelle Maßeinheit CS401

February 24, 2025
00:24

10V/500mA Vierkanal-Subkarten-Pulsquelle-Messungseinheit CBI401

February 24, 2025
00:24

10V/1A Vierkanal-Subkarten-Pulsquellenmessgerät CBI402

February 24, 2025
00:28

18V/1A Vierkanal-Subkarten-Pulsquellenmessgerät CBI403

February 24, 2025
00:28

3-Slots Subcards Plug-in Source Measure Unit 1003C mit industrieller Zuverlässigkeit und Skalierbarkeit

February 24, 2025
00:24

30V/1A Einzelkanal-Unterkarte Gleichstromquelle Maßeinheit CS100

February 24, 2025
00:24

100V/1A Einzelkanal-Unterkarte Gleichstromquelle Maßeinheit CS200

February 24, 2025
00:24

300V/1A Einzelkanal-Unterkarte Gleichstromquelle Maßeinheit CS300

February 24, 2025
00:29

10V/200mA Vierkanal-Subkartenquelle-Meter CS400 für Hochleistungsprüfungen in Parallelumgebungen

February 24, 2025

Weitere Informationen

Doppelkanalquellenmesser

00:24

300V/30A Dual-Channel-Quellzähler DP300B für verschiedene elektrische Eigenschaftenstests

February 24, 2025
00:24

100V/30A Dual-Channel-Quellzähler DP200B für die BJT-Prüfung

February 24, 2025
00:24

30V/30A Dual-Channel-Quellzähler DP100B mit Spannungs-/Strommessung und vier Quadrantenbetrieb

February 24, 2025

Hochspannungsstromquelle

00:27

8000V/40mA Hochspannungsstromquelle E800

February 25, 2025
00:24

3500V/100mA Hochspannungsstromquelle E300

February 25, 2025
00:27

2200V/100mA Hochspannungsstromquelle E200

February 25, 2025
00:24

1200V/100mA Hochspannungs-Stromquelle für IGBT-Ausfallspannungstest

February 25, 2025

Hochstromversorgung

00:24

300A/30V Hochstrom-Impuls-Stromversorgung HCPL030 für SiC/IGBT/GaN HEMT-Prüfung

February 25, 2025

Prüfung der Laseranlage

00:24

60A CW/600A QCW Hochleistungsprüfung Laseranlage HCPL060

February 25, 2025
00:24

60A CW/60A QCW Hochleistungsprüfung Laserstromversorgung HCPL006

February 25, 2025
00:24

20A CW/20A QCW Hochleistungsprüfung Laserstromversorgung HCPL002

February 25, 2025

Datenerfassungskarte

00:24

A400 Datenerfassungskarte mit 16-Bit-ADC-Auflösung und Probenahmerate von 1 MS/s

February 26, 2025

Weitere Videos

01:24

PRECISE Instrument. Quelle der Erforschung.

February 17, 2025

Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.

Qualität Quellmaß-Einheit, Doppelkanalquellenmesser Hersteller aus China

LDBI-Mehrkanalsystem zur Hochleistungs-Laseralterung

1000A-Stromsensor-Prüfsystem CTMS

10kV/6000A Leistungsanalysator Statikprüfsystem PMST für MOSFET BJT IGBT und SiC GaN Halbleiter

1200V/100A Halbleiterparameter-Analysator SPA6100

2 MS/s Mehrkanal-Datenerfassungskarte A400B Board Hochgeschwindigkeit

1000A/18V Hochstrom-Impuls-Stromversorgung HCPL100 für SiC/IGBT/GaN HEMT-Prüfung

S300 Gleichstromquellenmessgerät 300V/1A zur Prüfung der elektrischen Eigenschaften

300V/3A Halbleiterprüfung Gleichspannungsquellenmessgerät S300B

30V/1A/10A Halbleiterprüfung Vier-Quadranten-Betrieb Impulskörpermesser P100

100V/1A/10A Pulsquelle Meter P200 zur Charakterisierung von Halbleitern

300V/1A/10A Halbleiterprüfung Vier-Quadranten-Betrieb Impulskörpermesser P300

300V/4A/30A-Pulsquellenmessgerät P300B für Halbleiter und Materialien

Messgerät HCP100 für hohe Stromspannungsquellen mit maximaler Ausgangsspannung 30A und maximaler Ausgangsspannung 50V

100 V/100 A Hochstrom-Impulsquelle-Messgerät HCP300 für IGBT

18V/1A Vierkanal-Unterkarte DC-Quelle Maßeinheit CS402

10V/500mA Vierkanal-Unterkarte Gleichspannungsquelle Maßeinheit CS401

30V/1A Halbleiter elektrische Eigenschaften Prüfung Gleichstromquelle Maßeinheit S100

10V/500mA Vierkanal-Unterkarte Gleichspannungsquelle Maßeinheit CS401

10V/500mA Vierkanal-Subkarten-Pulsquelle-Messungseinheit CBI401

10V/1A Vierkanal-Subkarten-Pulsquellenmessgerät CBI402

18V/1A Vierkanal-Subkarten-Pulsquellenmessgerät CBI403

3-Slots Subcards Plug-in Source Measure Unit 1003C mit industrieller Zuverlässigkeit und Skalierbarkeit

30V/1A Einzelkanal-Unterkarte Gleichstromquelle Maßeinheit CS100

100V/1A Einzelkanal-Unterkarte Gleichstromquelle Maßeinheit CS200

300V/1A Einzelkanal-Unterkarte Gleichstromquelle Maßeinheit CS300

10V/200mA Vierkanal-Subkartenquelle-Meter CS400 für Hochleistungsprüfungen in Parallelumgebungen

300V/30A Dual-Channel-Quellzähler DP300B für verschiedene elektrische Eigenschaftenstests

100V/30A Dual-Channel-Quellzähler DP200B für die BJT-Prüfung

30V/30A Dual-Channel-Quellzähler DP100B mit Spannungs-/Strommessung und vier Quadrantenbetrieb

8000V/40mA Hochspannungsstromquelle E800

3500V/100mA Hochspannungsstromquelle E300

2200V/100mA Hochspannungsstromquelle E200

1200V/100mA Hochspannungs-Stromquelle für IGBT-Ausfallspannungstest

300A/30V Hochstrom-Impuls-Stromversorgung HCPL030 für SiC/IGBT/GaN HEMT-Prüfung

60A CW/600A QCW Hochleistungsprüfung Laseranlage HCPL060

60A CW/60A QCW Hochleistungsprüfung Laserstromversorgung HCPL006

20A CW/20A QCW Hochleistungsprüfung Laserstromversorgung HCPL002

A400 Datenerfassungskarte mit 16-Bit-ADC-Auflösung und Probenahmerate von 1 MS/s

PRECISE Instrument. Quelle der Erforschung.