1010C Mehrkanal-SMU-Einheit zur Prüfung der Halbleiter- und Materialcharakterisierung

Das modulare Fahrwerk 1010C vereint modernste Technologie mit innovativer Technik.Bereitstellung einer hochleistungsfähigen Prüflösung, die auf die unterschiedlichen Anforderungen in moderner FuE- und industrieller Anwendung zugeschnitten istDiese hoch anpassungsfähige Plattform verfügt über eine einheitliche Architektur, die die nahtlose Anpassung austauschbarer funktioneller Subkarten unterstützt.die präzise Ausführung komplexer Testszenarien bei der Validierung von Halbleitern ermöglicht, fortschrittliche Materialcharakterisierung und mehrkanälige Sensorik.

Produktmerkmale

▪Mehrkanal-Synchronisierung:Flexible Konfiguration der Unterkartenmenge/Arten.

▪Hochgeschwindigkeitsgetriebe3 Gbps Backplane-Bandbreite und 16-Kanal-Triggerbus sorgen für eine Synchronisierungsgenauigkeit auf μs-Ebene.

▪Standardgröße:19 Zoll Standard-Rack-Kompatibilität für eine platzsparende Integration.

▪Industrielle Zuverlässigkeit:Mehrschichtige EMI-Schirmung und intelligentes Luftkühlsystem.

▪Mehrprotokoll-Schnittstellen:GPIB/RS-232/Gigabit-Ethernet-Schnittstellen für eine nahtlose Verbindung.

▪SCPI-BefehlsunterstützungErmöglicht die Kaskadensteuerung von plattformübergreifenden Geräten.

▪Weite Verträglichkeit:Nahtlose Integration mit Pusces CS/CBI-Subkarten.

Produktparameter

Anwendungen

▪Elektrische Halbleiter:verwendet für verschiedene Prüfungen von Leistungshalbleitern, die durch SiC (Siliciumcarbid) und GaN (Galliumnitrid) dargestellt werden, einschließlich Abbruchspannungstests und Alterungstests,Bereitstellung von Datenunterstützung für Forschung und Entwicklung sowie Qualitätsprüfung von Leistungshalbleitern.

▪Diskrete Geräte:Kann Spannungsprüfungen an diskreten Geräten wie Dioden und Transistoren durchführen, um sicherzustellen, dass die Leistung dieser Geräte den Standards unter verschiedenen Spannungsumgebungen entspricht.

▪integrierte Schaltungen:Im Bereich der integrierten Schaltungen und Mikroelektronik wird es für Chip-Tests verwendet, um die Stabilität und Zuverlässigkeit von Chips in Hochspannungsumgebungen zu gewährleisten.

▪Materialforschung:Für die Untersuchung der elektrischen Eigenschaften von Halbleitermaterialien werden die Eigenschaften der Materialien durch Hochspannungsausgabe und Messfunktionen analysiert.Beitrag zur Forschung und Entwicklung neuer Halbleitermaterialien.

▪Sensoren:Bietet Leistungsprüfungstestlösungen für verschiedene Sensoren, simuliert Hochspannungsumgebungen und erkennt die Leistung von Sensoren unter extremen Spannungsbedingungen.

▪Unterrichtsbereich:Bereitstellung professioneller Ausrüstung für integrierte Schaltkreis- und Mikroelektronik-Lehrlaboratorien,den Studierenden die Grundsätze und Betriebsmethoden der Hochspannungstests beibringen und ihre praktischen Fähigkeiten verbessern.