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| Markenbezeichnung: | PRECISE INSTRUMENT |
| Modellnummer: | CS300 |
| MOQ: | 1 Einheit |
| Lieferzeit: | 2-8 Wochen |
| Zahlungsbedingungen: | T/T |
300V 1A Modular SMU Einheit Einzelkanal Subkarte Gleichspannungsquelle Maßeinheit CS300
Die modulare Subkarte CS300 ist ein Kernbestandteil der hochpräzisen Quellenmessgeräte (SMU) der CS-Serie, die für die elektrische Charakterisierung von Hochspannung und hoher Genauigkeit entwickelt wurden.Als einkanäliges SMU-Modul, integriert sich nahtlos in Hostsysteme 1003CS oder 1010CS und unterstützt vier-Quadranten-Betrieb (Sourcing/Sinking-Modi) zur Bewältigung der Anforderungen an Präzisionsprüfung in Halbleitergeräten, Nanomaterialien,Mit einer maximalen Leistung von 300 V/1 A, kombiniert mit hohem Dynamikbereich und synchronisierter Auslösung,Sie bietet eine außergewöhnliche Stabilität in komplexen Testszenarien, wie z. B. Spannungstests für Antriebsgeräte und Analyse von Dünnschichtmaterialien..
Produktmerkmale
▪Standard-SCPI-Befehlssatz:Vereinfacht die Automatisierungsintegration und benutzerdefinierte Skripts.
▪Flexibilität für mehrere Unterkarten:Skalierbare Architektur für parallele Testkonfigurationen.
▪Optimierte Host-Software:Vorinstallierte universelle Host-Software mit einer Befehlslatenz von < 10 ms.
▪End-to-End-Testsystem:Einheitliche Lösungen für Halbleitermaterialien bis hin zur Validierung von Geräten.
▪Raumwirksame Modularität:1U-Höhe maximiert die Rackdichte und minimiert den Fußabdruck.
Produktparameter
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Artikel 2 |
Parameter |
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Anzahl der Kanäle |
1 Kanal |
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Spannungsbereich |
300 mV bis 300 V |
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Auflösung der Mindestspannung |
30 uV |
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Leistungsbereich |
100nA1A |
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Mindest-Strom-Auflösung |
10pA |
|
Maximale Leistung für kontinuierliche Wellen (CW) |
30 W, 4-Quadranten-Quelle oder Spülmodus |
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Grenzwerte der Spannungsquelle |
±30V (für den Bereich ≤1A), ±300V (für den Bereich ≤100mA) |
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Aktuelle Quellgrenzen |
±1A (für den Bereich ≤30V), ±100mA (für den Bereich ≤300V) |
|
Stabile Lastkapazität |
< 22nF |
|
Breitbandlärm (20MHz) |
2mV RMS (typischer Wert), < 20mV Vp-p (typischer Wert) |
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Höchstmengen der Probenahme |
1000 S/s |
|
Messgenauigkeit der Quelle |
00,10% |
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Hosts, mit denen es kompatibel ist |
1003C,1010C |
Anwendungen
▪Prüfung von Halbleitergeräten:IV-Charakterisierung und dynamische Parameterprüfung diskreter Geräte (MOSFETs, BJTs, SiC-Geräte).
▪Nanomaterialien und organische Forschung:Evaluation von Leitfähigkeit und Ladungsträger-Eigenschaften für Graphen, Nanodrähte und organische Halbleitermaterialien.
▪Validierung der Energieeffizienz des Geräts:Effizienzanalyse und Belastungsregulierung von Solarzellen und Gleichspannungs-Gleichspannungsumwandlern.Sensor- und Präzisionskomponentenprüfung.Validierung von Hall-Sensoren, Widerstandsmessung,und langfristige Stabilitätsprüfungen für Geräte mit geringer Leistung.
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| Markenbezeichnung: | PRECISE INSTRUMENT |
| Modellnummer: | CS300 |
| MOQ: | 1 Einheit |
| Verpackungsdetails: | Karton. |
| Zahlungsbedingungen: | T/T |
300V 1A Modular SMU Einheit Einzelkanal Subkarte Gleichspannungsquelle Maßeinheit CS300
Die modulare Subkarte CS300 ist ein Kernbestandteil der hochpräzisen Quellenmessgeräte (SMU) der CS-Serie, die für die elektrische Charakterisierung von Hochspannung und hoher Genauigkeit entwickelt wurden.Als einkanäliges SMU-Modul, integriert sich nahtlos in Hostsysteme 1003CS oder 1010CS und unterstützt vier-Quadranten-Betrieb (Sourcing/Sinking-Modi) zur Bewältigung der Anforderungen an Präzisionsprüfung in Halbleitergeräten, Nanomaterialien,Mit einer maximalen Leistung von 300 V/1 A, kombiniert mit hohem Dynamikbereich und synchronisierter Auslösung,Sie bietet eine außergewöhnliche Stabilität in komplexen Testszenarien, wie z. B. Spannungstests für Antriebsgeräte und Analyse von Dünnschichtmaterialien..
Produktmerkmale
▪Standard-SCPI-Befehlssatz:Vereinfacht die Automatisierungsintegration und benutzerdefinierte Skripts.
▪Flexibilität für mehrere Unterkarten:Skalierbare Architektur für parallele Testkonfigurationen.
▪Optimierte Host-Software:Vorinstallierte universelle Host-Software mit einer Befehlslatenz von < 10 ms.
▪End-to-End-Testsystem:Einheitliche Lösungen für Halbleitermaterialien bis hin zur Validierung von Geräten.
▪Raumwirksame Modularität:1U-Höhe maximiert die Rackdichte und minimiert den Fußabdruck.
Produktparameter
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Artikel 2 |
Parameter |
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Anzahl der Kanäle |
1 Kanal |
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Spannungsbereich |
300 mV bis 300 V |
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Auflösung der Mindestspannung |
30 uV |
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Leistungsbereich |
100nA1A |
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Mindest-Strom-Auflösung |
10pA |
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Maximale Leistung für kontinuierliche Wellen (CW) |
30 W, 4-Quadranten-Quelle oder Spülmodus |
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Grenzwerte der Spannungsquelle |
±30V (für den Bereich ≤1A), ±300V (für den Bereich ≤100mA) |
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Aktuelle Quellgrenzen |
±1A (für den Bereich ≤30V), ±100mA (für den Bereich ≤300V) |
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Stabile Lastkapazität |
< 22nF |
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Breitbandlärm (20MHz) |
2mV RMS (typischer Wert), < 20mV Vp-p (typischer Wert) |
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Höchstmengen der Probenahme |
1000 S/s |
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Messgenauigkeit der Quelle |
00,10% |
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Hosts, mit denen es kompatibel ist |
1003C,1010C |
Anwendungen
▪Prüfung von Halbleitergeräten:IV-Charakterisierung und dynamische Parameterprüfung diskreter Geräte (MOSFETs, BJTs, SiC-Geräte).
▪Nanomaterialien und organische Forschung:Evaluation von Leitfähigkeit und Ladungsträger-Eigenschaften für Graphen, Nanodrähte und organische Halbleitermaterialien.
▪Validierung der Energieeffizienz des Geräts:Effizienzanalyse und Belastungsregulierung von Solarzellen und Gleichspannungs-Gleichspannungsumwandlern.Sensor- und Präzisionskomponentenprüfung.Validierung von Hall-Sensoren, Widerstandsmessung,und langfristige Stabilitätsprüfungen für Geräte mit geringer Leistung.
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