Unterkarte PXI SMU-Einheit 10V 200mA für Hochleistungsprüfungen in Parallelumgebungen

Die modulare Subkarte CS400 ist eine hochdichte, mehrkanälige Quellenmessungseinheit (SMU), die für parallel laufende Testanwendungen mit hohem Durchsatz entwickelt wurde.jedes Modul integriert vier unabhängige Kanäle mit einer gemeinsamen Bodenkonfiguration, nahtlos kompatibel mit Hosts der CS-Serie (z. B. CS1010C). Ein einzelner Host unterstützt bis zu 40 synchronisierte Kanäle,die Effizienz der Prüfungen erheblich verbessern und gleichzeitig die Systemkosten für Massenproduktionsumgebungen senken.

Produktmerkmale

▪Vier-Quadranten-Operation:"Technologie" für die "Erstellung" oder "Verarbeitung" von Geräten oder Geräten, die als "technische Geräte" oder "technische Geräte" oder "technische Geräte" bezeichnet werden.

▪Mehrfunktionsmodi:Unterstützt Spannungs-/Stromquelle, Voltmeter, Ammeter und elektronische Lastfunktionen.

▪Hochdichte Skalierbarkeit:Ein 4-Kanal-Projekt pro Unterkarte, erweiterbar auf 40 Kanäle mit einem CS1010C-Host für die Prüfung von Parallelgeräten.

▪Hohe Genauigkeit:Erreicht eine Basisgenauigkeit von ±0,1% in den vollen Bereichen in den Modus "Sourcing/Sinking".

▪Erweiterte Messung:2-draht/4-draht (Kelvin) -Messmodi für eine niedrige Widerstandsgenauigkeit.

▪Auslöserflexibilität:Konfigurierbare I/O-Triggersignale (Auf/Ab-Kante) für die Synchronisierung mit mehreren Geräten.

Produktparameter

Anwendungen

▪ Elektrische Halbleiter:verwendet für verschiedene Prüfungen von Leistungshalbleitern, die durch SiC (Siliciumcarbid) und GaN (Galliumnitrid) dargestellt werden, einschließlich Abbruchspannungstests und Alterungstests,Bereitstellung von Datenunterstützung für Forschung und Entwicklung sowie Qualitätsprüfung von Leistungshalbleitern.

▪Diskrete Geräte:Kann Spannungsprüfungen an diskreten Geräten wie Dioden und Transistoren durchführen, um sicherzustellen, dass die Leistung dieser Geräte den Standards unter verschiedenen Spannungsumgebungen entspricht.

▪ integrierte Schaltungen:Im Bereich der integrierten Schaltungen und Mikroelektronik wird es für Chip-Tests verwendet, um die Stabilität und Zuverlässigkeit von Chips in Hochspannungsumgebungen zu gewährleisten.

▪ Materialforschung:Für die Untersuchung der elektrischen Eigenschaften von Halbleitermaterialien werden die Eigenschaften der Materialien durch Hochspannungsausgabe und Messfunktionen analysiert.Beitrag zur Forschung und Entwicklung neuer Halbleitermaterialien.

▪Sensoren:Bietet Leistungsprüfungstestlösungen für verschiedene Sensoren, simuliert Hochspannungsumgebungen und erkennt die Leistung von Sensoren unter extremen Spannungsbedingungen.

▪Unterrichtsbereich:Bereitstellung professioneller Ausrüstung für integrierte Schaltkreis- und Mikroelektronik-Lehrlaboratorien,den Studierenden die Grundsätze und Betriebsmethoden der Hochspannungstests beibringen und ihre praktischen Fähigkeiten verbessern.