10V 1A PXI SMU 4 Kanal Subkarte Impulse SMU Quellenmessungseinheit CBI402

Die modulare Subkarte CBI402 ist eine hochdichte Mehrkanal-Quellenmessungseinheit (SMU), die für Effizienz- und Präzisionsversuche entwickelt wurde.Mit einer kartenbasierten Architektur mit 4 unabhängigen Kanälen pro Unterkarte und einer Common-Ground-Konfiguration, lässt sich nahtlos mit Hosts der CS-Serie (z. B. CS1010C) integrieren und ermöglicht eine skalierbare Erweiterung bis zu 40 Kanälen pro Host.Dieses Design erhöht den Testdurchsatz erheblich und senkt gleichzeitig die Kosten für die Systemintegration, so dass es ideal für große Anwendungen wie die Validierung von Leistungseinrichtungen und die Prüfung von Multi-Sonde-Wafer verwendet werden kann.

Produktmerkmale

▪Multifunktionale Integration:Kombiniert Spannungs-/Stromversorgung, Messung und elektronische Belastungsfunktionen.

▪Vier-Quadranten-Operation:Unterstützt den Einspeisungs-/Senkungsmodus (±10V, ±1A) für die dynamische Gerätecharakterisierung.

▪Hohe Leistungsausgabe:Er liefert bis zu 1A Strom und 10W pro Kanal für robuste Testmöglichkeiten.

▪Synchronisierte Mehrkanalsteuerung:Ermöglicht die parallele Beschaffung/Messung über Kanäle hinweg mit μs-Niveau-Zeitgestaltung.

▪Doppelte Prüfmodi:Impulse- und Gleichstrommodus für flexible Anpassung des Prüfprotokolls.

▪ Konfigurierbare Architektur:Kanäle arbeiten unabhängig voneinander oder in synchronisierten Gruppen für Arbeitsflüsse mit gemischten Geräten.

Produktparameter

Anwendungen

▪Elektrische Halbleiter:verwendet für verschiedene Prüfungen von Leistungshalbleitern, die durch SiC (Siliciumcarbid) und GaN (Galliumnitrid) dargestellt werden, einschließlich Abbruchspannungstests und Alterungstests,Bereitstellung von Datenunterstützung für Forschung und Entwicklung sowie Qualitätsprüfung von Leistungshalbleitern.

▪Diskrete Geräte:Kann Spannungsprüfungen an diskreten Geräten wie Dioden und Transistoren durchführen, um sicherzustellen, dass die Leistung dieser Geräte den Standards unter verschiedenen Spannungsumgebungen entspricht.

▪integrierte Schaltungen:Im Bereich der integrierten Schaltungen und Mikroelektronik wird es für Chip-Tests verwendet, um die Stabilität und Zuverlässigkeit von Chips in Hochspannungsumgebungen zu gewährleisten.

▪Materialforschung:Für die Untersuchung der elektrischen Eigenschaften von Halbleitermaterialien werden die Eigenschaften der Materialien durch Hochspannungsausgabe und Messfunktionen analysiert.Beitrag zur Forschung und Entwicklung neuer Halbleitermaterialien.

▪Sensoren:Bietet Leistungsprüfungstestlösungen für verschiedene Sensoren, simuliert Hochspannungsumgebungen und erkennt die Leistung von Sensoren unter extremen Spannungsbedingungen.

▪Unterrichtsbereich:Bereitstellung professioneller Ausrüstung für integrierte Schaltkreis- und Mikroelektronik-Lehrlaboratorien,den Studierenden die Grundsätze und Betriebsmethoden der Hochspannungstests beibringen und ihre praktischen Fähigkeiten verbessern.