1200V/100A Halbleiterparameter-Analysator SPA6100 Halbleiterprüfsysteme

Der SPA6100 Halbleiterparameter-Analysator bietet Vorteile wie hohe Präzision, breiten Messbereich, schnelle Flexibilität und starke Kompatibilität.Dieses Produkt unterstützt die gleichzeitige Prüfung von Gleichstrom-Spannung (I-V), Kapazitätsspannung (C-V) und gepulste I-V-Eigenschaften unter Hochstrom-/Hochspannungsbedingungen.

Mit einem modularen Strukturdesign können die Benutzer Messgeräte flexibel auswählen und konfigurieren, um die Systeme auf der Grundlage von Prüfbedürfnissen zu verbessern.Der Analyzer unterstützt Messungen bis zu einer Spannung von 1200 V, 100A Hochstrom und 1pA Niedrigstrom Auflösung, während auch Multi-Frequenz AC Kapazität Messungen im Bereich von 10 kHz bis 1 MHz ermöglicht.

Es ist mit einer speziellen Halbleiterparameterprüfsoftware ausgestattet und unterstützt sowohl die interaktive manuelle Bedienung als auch die automatisierte Bedienung in Verbindung mit Sondenstationen.Das System rationalisiert den gesamten Arbeitsablauf von der Messungseinrichtung, Ausführung, Ergebnisanalyse bis hin zum Datenmanagement, was eine effiziente und wiederholbare Charakterisierung der Geräte ermöglicht.Es ist kompatibel mit Temperaturkammern und thermischen Steuerungsmodulen zur Erfüllung der Anforderungen an hohe/niedrige Temperaturen..

Produktmerkmale

▪30 μV bis 1200 V, 1 pA bis 100 A, Messfähigkeit für einen breiten Bereich
▪Hohe Messgenauigkeit von bis zu 0,03% im gesamten Messbereich
▪Eingebettete Standard-Gerätetestprogramme für direkte Aufrufe und vereinfachte Tests
▪Automatische Echtzeit-Parameter-Extraktion, Datenaufstellung und Analysefunktionen
▪Schnelle Wechsel zwischen C-V- und I-V-Messungen ohne Neuverkablung
▪Flexible Lösungen zur Anpassung von Leuchten mit starker Kompatibilität
▪Kostenlose PC-basierte Software und SCPI-Befehlssatz zur Verfügung gestellt

Produktparameter

Anwendungen

▪Nanomaterialien: Widerstand, Trägermobilität, Trägerkonzentration, Hallspannung

▪Flexible Materialien:Ziehungs-, Torsions- und Biegetest, Spannungszeit (V-t), Stromzeit (I-t), Widerstandszeit (R-t), Widerstand, Empfindlichkeit

▪IC-Chips: offener/kurzer (O/S) Test, Eingangs-Hoch-/Niedrigstrom (IIH/IIL), Ausgangs-Hoch-/Niedrigspannung (VOH/VOL), I/O Pin I-V-Kurven

▪Diskrete Geräte:BVDSS,IGSS,IDSS,Vgs(th),Rdson,Ciss/Coss/Crss (Eingabe/Ausgabe/Umkehrtransferkapazität),Ausgabe/Transfer/C-V-Kurven.

▪Fotodetektoren: Dunkler Strom (ID), Verbindungskapazität (Ct), Umkehrspannung (VBR), Reaktionsfähigkeit (R).

▪Perovskit-Solarzellen: Offene Spannung (VOC), Kurzschlussstrom (ISC), Höchstleistung (Pmax), Maximalspannung (Vmax), Maximalstrom (Imax), Füllfaktor (FF), Wirkungsgrad (η),Serienwiderstand (R), Shuntwiderstand (Rsh)

▪LDs/LEDs/OLEDs:Betriebsstrom (Iop), optische Leistung (Popt), Vorwärtsspannung (VF),Schwellenstrom (Ith), Umspannung (VR), Umspannung (IR), Lichtstromspannung (LIV) und I-V-Luminanz (IVL)

▪ Sensoren/Memristoren:Spannungszeit (V-t), Stromzeit (I-t), Widerstandszeit (R-t),Gleichspannungs-/Puls-/Wechselstrom-I-V-Prüfung