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Quellmaß-Einheit

S300 Gleichstrom-SMU-Quellenmessgerät 300V 1A zur Prüfung der elektrischen Eigenschaften

30V 3A Hochpräzisionsquellenmessgerät S100B Gleichstrom-SMU-Einheit Halbleiterprüfung

Prüfung der elektrischen Eigenschaften von Halbleitern SMU Einheit S100 DC 30V 1A SMU Messung

S200 Hochpräzisions 100V 1A SMU-Einheit zur Prüfung der elektrischen Leistung

HCP200 Hochstrom-SMU-Messungseinheit für Solarzellenmodule

100V 100A SMU-Messgerät Hochstrom-Impulsquellenmesser HCP300 für IGBT

Doppelkanalquellenmesser

Einheit DP100B mit Spannungs- / Strommessung

100V 30A Doppelkanalquelle Meter DP200B Quelle Maßeinheit für BJT-Test

300V 30A Dual Source Meter Einheit DP300B SMU Messung für elektrische Eigenschaftsprüfung

Mehrkanalprüfgeräte

100V 1A PXI Quellenmessgerät Einzelkanal-Unterkarte Gleichspannung SMU-Einheit CS200

Einzelkanal PXI SMU 30V 1A Unterkarte Gleichspannungsquelle Messgerät CS100

1010C Mehrkanal-SMU-Einheit zur Prüfung der Halbleiter- und Materialcharakterisierung

3 Steckplätze Unterkarte Stecker in SMU-Einheit 1003C Quellenmessungseinheit

4 Kanäle Nationale Instrumente SMU 10V 500mA Unterkarte Gleichstromquelle Maßnahme CS401

Hochstromversorgung

300A 30V Pulsstromversorgung Hochstromquelle HCPL030 für SiC IGBT GaN HEMT-Prüfung

1000A 18V Hochstrom-Impulsstromquelle HCPL100 Programmierbare Stromversorgung

Hochspannungsstromquelle

2200V 100mA Hochspannungsstromquelle E200 Konstante Spannungsstromquelle

3500V/100mA Hochspannungsstromquelle E300 Hochspannungsstromquelle Meter

8000V 40mA Hochspannungsstromquelle E800 für SiC / IGBT / GaN HEMT-Test

1200V 100mA Hochspannungs-Stromquelle-Messungseinheit für IGBT-Ausfallspannungstest

Prüfung der Laseranlage

20A CW / 20A QCW Test Laserstromversorgung HCPL002 Hochleistungsdioden Laserstromversorgung

HCPL006 Diodenlaserstromversorgung 60A CW/60A QCW Prüflaserstromversorgung

60A CW / 600A QCW Prüflaserstromversorgung HCPL060 Diodenlaserstromversorgung

Datenerfassungskarte

2 MS/S Mehrkanal-Pxi SMU Hochgeschwindigkeitsdatenerfassungskarte A400B Hochgeschwindigkeitsdaq-Karte

1MS/S A400 Datenerfassungskarte 4 Kanäle 16 Bit ADC Auflösung Daq-Karte

Halbleiterprüfsysteme

1200V/100A Halbleiterparameter-Analysator SPA6100 Halbleiterprüfsysteme

10Hz-1MHz Halbleitergerät C-V-Prüfsystem

1000A Stromsensorprüfsystem CTMS Halbleiterprüfgerät

LDBI-Laseralterung Halbleiterprüfsysteme Mehrkanalprüfsystem

10kV/6000A Leistungsanalysator Statikprüfung PMST für Mosfet BJT IGBT SiC GaN Halbleiter

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