logo
Nachricht senden
english
français
Deutsch
Italiano
русский
Español
português
Nederlandse
ελληνικά
日本語
한국어
Polski
فارسی
বাংলা
ไทย
tiếng Việt
العربية
हिन्दी
Türkçe
bahasa indonesia
Zu Hause
Über uns
Unternehmensprofil
werksbesichtigung
qualitätskontrolle
Häufig Gestellte Fragen
produits

Quellmaß-Einheit

Doppelkanalquellenmesser

Mehrkanalprüfgeräte

Hochstromversorgung

Hochspannungsstromquelle

Prüfung der Laseranlage

Datenerfassungskarte

Halbleiterprüfsysteme
lösungen
video
blog
kontakt mit uns
english
français
Deutsch
Italiano
русский
Español
português
Nederlandse
ελληνικά
日本語
한국어
Polski
فارسی
বাংলা
ไทย
tiếng Việt
العربية
हिन्दी
Türkçe
bahasa indonesia
zitat
zu hause
Über uns
Unternehmensprofil
werksbesichtigung
qualitätskontrolle
Häufig Gestellte Fragen
produits

Quellmaß-Einheit

Doppelkanalquellenmesser

Mehrkanalprüfgeräte

Hochstromversorgung

Hochspannungsstromquelle

Prüfung der Laseranlage

Datenerfassungskarte

Halbleiterprüfsysteme
lösungen
video
blog
kontakt mit uns
Zitat
Created with Pixso. Zu Hause Created with Pixso. Wuhan Precise Instrument Co., Ltd. Sitemap
Firma
Video
Über uns
Kontakt mit uns
Blog
Lösungen
produits

Quellmaß-Einheit

Halbleiterprüfimpulse SMU-Einheit Quellenmessungseinheit P200B 100V 4A 30A

Messgerät für Hochstrom-Impulsquellen HCP100 Max 30A 50V Quellenmesser

300V 4A 30A Impulse SMU-Einheit P300B Quellenmessung für Halbleiter und Materialien

Doppelkanalquellenmesser

Einheit DP100B mit Spannungs- / Strommessung

100V 30A Doppelkanalquelle Meter DP200B Quelle Maßeinheit für BJT-Test

300V 30A Dual Source Meter Einheit DP300B SMU Messung für elektrische Eigenschaftsprüfung

Mehrkanalprüfgeräte

100V 1A PXI Quellenmessgerät Einzelkanal-Unterkarte Gleichspannung SMU-Einheit CS200

Einzelkanal PXI SMU 30V 1A Unterkarte Gleichspannungsquelle Messgerät CS100

1010C Mehrkanal-SMU-Einheit zur Prüfung der Halbleiter- und Materialcharakterisierung

3 Steckplätze Unterkarte Stecker in SMU-Einheit 1003C Quellenmessungseinheit

4 Kanäle Nationale Instrumente SMU 10V 500mA Unterkarte Gleichstromquelle Maßnahme CS401

Hochstromversorgung

300A 30V Pulsstromversorgung Hochstromquelle HCPL030 für SiC IGBT GaN HEMT-Prüfung

1000A 18V Hochstrom-Impulsstromquelle HCPL100 Programmierbare Stromversorgung

Hochspannungsstromquelle

2200V 100mA Hochspannungsstromquelle E200 Konstante Spannungsstromquelle

3500V/100mA Hochspannungsstromquelle E300 Hochspannungsstromquelle Meter

8000V 40mA Hochspannungsstromquelle E800 für SiC / IGBT / GaN HEMT-Test

1200V 100mA Hochspannungs-Stromquelle-Messungseinheit für IGBT-Ausfallspannungstest

Prüfung der Laseranlage

20A CW / 20A QCW Test Laserstromversorgung HCPL002 Hochleistungsdioden Laserstromversorgung

HCPL006 Diodenlaserstromversorgung 60A CW/60A QCW Prüflaserstromversorgung

60A CW / 600A QCW Prüflaserstromversorgung HCPL060 Diodenlaserstromversorgung

Datenerfassungskarte

2 MS/S Mehrkanal-Pxi SMU Hochgeschwindigkeitsdatenerfassungskarte A400B Hochgeschwindigkeitsdaq-Karte

1MS/S A400 Datenerfassungskarte 4 Kanäle 16 Bit ADC Auflösung Daq-Karte

Halbleiterprüfsysteme

1200V/100A Halbleiterparameter-Analysator SPA6100 Halbleiterprüfsysteme

10Hz-1MHz Halbleitergerät C-V-Prüfsystem

1000A Stromsensorprüfsystem CTMS Halbleiterprüfgerät

LDBI-Laseralterung Halbleiterprüfsysteme Mehrkanalprüfsystem

10kV/6000A Leistungsanalysator Statikprüfung PMST für Mosfet BJT IGBT SiC GaN Halbleiter

1 2 3 4